Análise da Superfície

As propriedades químicas e físicas da superfície de um componente têm um impacto significativo nas etapas de processamento posteriores, como a colagem, a ligação, a soldadura, a pintura, etc. O habitus, ou seja, a forma das superfícies, pode muitas vezes explicar efeitos desejados ou indesejados em etapas posteriores do processo. Dispomos de uma vasta gama de meios analíticos para caraterizar as estruturas de superfície desde o milímetro até ao nanómetro.

Também o conhecimento da natureza química de uma superfície ou a caracterização de contaminações superficiais pode ajudar a compreender falhas ou a identificar as causas de raiz em investigações de reclamações.

A gama de serviços do laboratório abrange os seguintes métodos de ensaio:

SEM - Microscópio Eletrónico de Varrimento

O Microscópio Eletrónico de Varrimento (MEV) faz o scan de um feixe de electrões focalizado sobre uma superfície para criar uma imagem. Os electrões do feixe interagem com a amostra, produzindo vários sinais que podem ser utilizados para obter informações sobre a topografia e a composição da superfície.

SEM - Microscópio Eletrónico de Varrimento

EDX - Análise de Raios X por Dispersão de Energia

A espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDX) é uma técnica analítica que permite a caracterização química/análise elementar de materiais.

EDX - Análise de Raios X por Dispersão de Energia

AFM - Microscopia de Força Atómica

A microscopia de força atómica (AFM) é uma técnica poderosa que permite a obtenção de imagens de praticamente qualquer tipo de superfície, incluindo polímeros, cerâmicas, compósitos ou vidro.

AFM - Microscopia de Força Atómica

Profilómetro de Contacto

A perfilometria é uma técnica utilizada para extrair dados topográficos de uma superfície. Pode ser um ponto único, um varrimento de linha ou mesmo um varrimento tridimensional completo. O objetivo da perfilometria é obter a morfologia da superfície, a altura dos degraus e a rugosidade da superfície.

Profilómetro de Contacto

IFM - Microscopia de Foco Infinito

O Alicona G4 InfiniteFocus é uma ferramenta metrológica que utiliza a "variação de foco" para medir a forma e a rugosidade das superfícies. [...]

IFM - Microscopia de Foco Infinito

Medição do Ângulo de Contacto

O ângulo de contacto (ângulo de molhagem) é uma medida quantitativa da molhagem de um sólido por um líquido. As medições do ângulo de contacto de líquidos adequados podem ser utilizadas para caraterizar propriedades materiais como a energia de superfície.

Medição do Ângulo de Contacto

Elipsometria

A elipsometria é utilizada principalmente para determinar a espessura da película e as constantes ópticas. No entanto, também é aplicada para caracterizar a composição, cristalinidade, rugosidade, concentração de dopagem e outras propriedades do material associadas a uma alteração na resposta ótica

Elipsometria

FTIR - Espectroscopia de Infravermelhos com transformação de Fourier

A espectroscopia de infravermelhos com transformação de Fourier, também conhecida como análise FTIR ou espectroscopia FTIR, é uma técnica analítica utilizada para identificar materiais orgânicos, poliméricos e, nalguns casos, inorgânicos. O método de análise FTIR utiliza luz infravermelha para analisar amostras de teste e observar as propriedades químicas.

FTIR - Espectroscopia de Infravermelhos com transformação de Fourier

Conformidade LABS

A conformidade LABS descreve a condição de um produto ou material que não causou qualquer perturbação na humidificação da tinta quando testado.

Conformidade LABS

Contacto

Análise Química e Física

Chemical and Physical Analytics
Mittelstetter Weg 2, 86830 Schwabmünchen